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基于有限元分析的 QFN 器件焊点温循寿命研究
2023-03-08
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随着5G产品的大规模商用，产品遍布全球高原、沙漠、 沿海等地区，面临着各种复杂的使用工况，产品的可靠性 寿命受到更严苛的考验。针对市场产品需达到一个预期寿 命比如 10 年或 20 年。当然这个不太可能将产品放在实际 工况下做这么长时间的实验，当前主要是通过加速实验判 断预期寿命。加速实验中，获取温循寿命主要通过的是高 低温加速实验，这种实验一方面成本较高，并且只能暴露 问题，无法提出解决方案，比如实验完成后知道器件焊点 温循寿命低，在设计端怎么做可提高温循寿命呢。通过有 限元仿真可较好避免上述两个弊端。 本文通过 ABAQUS 有限元仿真
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